我們日常生活中，很多生活物品都經過鍍膜機鍍上了一層膜（mó）層，讓產品不僅變得更美觀，也更實用。但是很多人會有一（yī）個疑問，那既然（rán）是鍍了一層膜層，薄膜肯定是有厚度大小的，那（nà）麽薄膜厚度具體多厚呢，以及怎麽去測量？

       薄膜必須沉積在基底之上， 所以離開了基片也就無從談薄膜沉積的問題。基片的（de）清洗（xǐ）好壞又對（duì）薄膜的質最有極共重要的影響。同時在薄膜的製作中還必須知道薄膜的厚度，脫離了薄膜的厚度來談薄膜性質（zhì）的測（cè）最也是亳無（wú）意義的。 所以， 膜厚（hòu）的測量和基片的清洗可以說是和薄膜製作相關的重要技術。一般所謂（wèi）的厚（hòu）度是指兩個（gè）完全平整（zhěng）的平行平麵之間的距離，這個概念是一個幾何概念。

        理想的薄膜厚度是（shì）指基片表麵和薄膜表麵之間的距離。在薄膜形貌的（de）三維度量中，相對於薄膜（mó）的厚度來講（jiǎng），其他兩維的度量（liàng）可以說是（shì）無（wú）窮大。由於實際（jì）上存在的表麵是不平整（zhěng）和（hé）不連續的，而且薄膜的內部還可能存在著氣孔、雜質、晶格缺陷和表麵吸附分子等等，所有要嚴格（gé）地定義和精確地測量薄膜的厚度實（shí）際上是（shì）很困難的。

        膜（mó）厚的定義位當（dāng）根據測址的方法和測址的目的決定。 因此，同一個薄膜，使用不同的測（cè）量方法會得到不同的（de）結果， 即不同的厚度。

        在薄膜（mó）油測量中的表麵並（bìng）不是一（yī）個幾何的概念，而是一個 物埋概念，是指表麵分子（原子（zǐ））的集合。 平均表麵是指表麵原（yuán）子所有（yǒu）的點到這個（gè）麵的距離代（dài）數和等於零， 平均表麵是一個兒何概念。

        我們通常將基片的一側的表麵分子的集合（hé）的平均表麵稱（chēng）為基（jī）片表麵；薄膜（mó）上不和（hé）基片接觸的那一側的表麵的平均表麵稱為薄膜的形（xíng）狀表麵，將所測量的薄膜原子（zǐ）重新排列，使其密度和大塊狀固體材料完全一樣且均勻的（de）分布在基片表麵上，這時平均表麵稱為薄膜質量等價表麵；根據所測量薄膜的物（wù）理性質等效為一種（zhǒng）長度和寬度與所測量的薄（báo）膜（mó）一樣的大塊固體材料的薄膜，這時的平均表麵稱為薄膜物性等價表麵。 形狀膜厚是比較（jiào）接近於直觀形式的膜厚， 通常以（yǐ）µm為單位； 質量膜厚反映（yìng）了薄膜（mó）中包含物質為多少，通常 以 µg/cm#8217;為（wéi）單位， 物性膜厚在實際使用上較有用， 而且比較容（róng）易測量。

         由於（yú）實際（jì）表麵並不平整，同時薄（báo）膜製作過程中又不可避免地要有各種（zhǒng）缺陷、 雜（zá）質和吸（xī）附分子等存在，所以不管用哪 一種方法來定義和測量膜厚，都是一個平均值，而且足包括了雜質、缺（quē）陷以及吸附分子在內的薄膜的厚度值。

        真空鍍膜機鍍膜是在真空腔體下進行鍍膜的，對於測量膜厚度來說，是需（xū）要這方麵專業的（de）測（cè）量儀才能測出厚度大小。

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